全民檢測(cè)做RFID電子標(biāo)簽可靠性試驗(yàn)報(bào)告

rfid電子標(biāo)簽可靠性試驗(yàn)服務(wù)，第三方檢測(cè)認(rèn)證機(jī)構(gòu)，提供各類電磁兼容性、防塵防水試驗(yàn)、環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)服務(wù)。
射頻識(shí)別(rfid)技術(shù)是20世紀(jì)90年代開始興起的一種非接觸的自動(dòng)識(shí)別技術(shù)，它是利用射頻信號(hào)和空間耦合或雷達(dá)反射的傳輸特性，實(shí)現(xiàn)對(duì)被識(shí)別物體的自動(dòng)識(shí)別。與傳統(tǒng)的磁卡、ic卡相比，該技術(shù)的優(yōu)點(diǎn)在于遠(yuǎn)間隔和非接觸識(shí)別，因此完成識(shí)別工作時(shí)無須人工干預(yù)，適合于實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)的自動(dòng)化且不易損壞，可識(shí)別高速運(yùn)動(dòng)物體，操縱快捷方便。
rfid電子標(biāo)簽可靠性試驗(yàn)項(xiàng)目：
1、電磁兼容抗干擾試驗(yàn)
靜電放電抗擾度試驗(yàn)：接觸放電±15kv，空氣放電±15kv，放電次數(shù)正負(fù)極性各10次。
工頻磁場(chǎng)試驗(yàn)：測(cè)試端口外殼端口，磁場(chǎng)強(qiáng)度1000a/m，測(cè)試方向x,y,z三個(gè)軸向。
脈沖磁場(chǎng)試驗(yàn)：測(cè)試端口外殼端口，磁場(chǎng)強(qiáng)度1000a/m，試驗(yàn)次數(shù)正負(fù)極性各10次，測(cè)試方向x,y,z三個(gè)軸向。
射頻電磁場(chǎng)輻射試驗(yàn)：試驗(yàn)等級(jí)3級(jí)，測(cè)試頻率80mhz-1000mhz,試驗(yàn)場(chǎng)強(qiáng)10v/m。
阻尼振蕩磁場(chǎng)試驗(yàn)：試驗(yàn)等級(jí)5級(jí)，磁場(chǎng)強(qiáng)度100a/m。
2、環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)
低溫試驗(yàn)：-40℃，穩(wěn)定2小時(shí)，試驗(yàn)后讀取數(shù)據(jù)。
低溫貯存試驗(yàn)：-50℃，貯存16h，試驗(yàn)后讀取數(shù)據(jù)。
高溫試驗(yàn)：+75℃，溫度2小時(shí)，試驗(yàn)后讀取數(shù)據(jù)。
高溫貯存試驗(yàn)：+85℃，溫度2小時(shí)，試驗(yàn)后讀取數(shù)據(jù)。
溫度循環(huán)試驗(yàn)：-40℃~+85℃，高低溫各保持3小時(shí)，溫度變化速率1oct/min,循環(huán)5次。
恒定濕熱試驗(yàn)：溫度+85℃，濕度95％，貯存48小時(shí)，恢復(fù)到常溫保持2小時(shí)，讀取樣品數(shù)據(jù)。
鹽霧試驗(yàn)：溫度35℃，5％nacl溶液，連續(xù)噴霧48小時(shí)，試驗(yàn)后，外殼涂層不應(yīng)出現(xiàn)銹蝕現(xiàn)象。
振動(dòng)試驗(yàn)：10hz-150hz,加速度10m/s2，每方向振動(dòng)1小時(shí)。
機(jī)械沖擊試驗(yàn)：沖擊波形半正弦波，加速度147m/s2,脈沖寬度11ms，試驗(yàn)后應(yīng)能讀取樣品數(shù)據(jù)。
3、外殼防護(hù)防塵防水試驗(yàn)
ipx8防水試驗(yàn)：水深2米，試驗(yàn)1小時(shí)，開蓋檢查，殼體內(nèi)部沒有進(jìn)水。
ip6x防塵試驗(yàn)：抽負(fù)壓，沙塵箱中試驗(yàn)8小時(shí)，開蓋檢查，殼體內(nèi)部沒有進(jìn)塵。
一般市場(chǎng)用戶在進(jìn)行rfid電子標(biāo)簽采購(gòu)時(shí)，均要求提供國(guó)家認(rèn)可的第三方權(quán)威檢測(cè)機(jī)構(gòu)出具的有效檢測(cè)報(bào)告。
北京可靠性及電磁兼容測(cè)試實(shí)驗(yàn)室是一家專業(yè)提供各類射頻設(shè)備、電工電子、軌道交通、醫(yī)療裝備、智能制造裝備的第三方可靠性、安全性、電磁兼容性、環(huán)境適應(yīng)性檢測(cè)認(rèn)證一站式服務(wù)。
出具國(guó)家承認(rèn)的cnas,cma檢測(cè)報(bào)告。