數(shù)字源表用于高校物理實(shí)驗(yàn)

本科生集成電路實(shí)驗(yàn)?zāi)康?br> 通過實(shí)驗(yàn)動(dòng)手操作，加深對(duì)半導(dǎo)體物理理論知識(shí)的理解，掌握半導(dǎo)體材料和不同器件性能的表征方法及基本實(shí)驗(yàn)技能，培養(yǎng)分析問題和解決問題的能力。
本科生集成電路實(shí)驗(yàn)?zāi)夸?br> 實(shí)驗(yàn)一：金屬-氧化物-半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管特性iv特性測試實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)二：四探針法測量半導(dǎo)體電阻率測試實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)三： mos電容的cv特性測試實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)四：半導(dǎo)體霍爾效應(yīng)測試實(shí)驗(yàn)實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)五：激光二極管ld的liv特性測試實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)六：太陽能電池的特性表征實(shí)驗(yàn)
本科生集成電路實(shí)驗(yàn)平臺(tái)優(yōu)勢(shì)
滿足本科生基礎(chǔ)教學(xué)實(shí)驗(yàn)中微電子器件和材料測試需求
測試設(shè)備簡單易用，專業(yè)權(quán)威，方便學(xué)生動(dòng)手操作
核心設(shè)備測試精度高，滿足新材料和新器件的指標(biāo)要求
測試軟件功能齊全，平臺(tái)化設(shè)計(jì)，有專人維護(hù)支持，與專業(yè)測試軟件使用相同架構(gòu)
以基礎(chǔ)平臺(tái)為起點(diǎn)，可逐步升級(jí)，滿足日益增加的實(shí)驗(yàn)室測試需求
本科生集成電路實(shí)驗(yàn)基本功能
實(shí)驗(yàn)名稱
測試參數(shù)
金屬-氧化物-半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管特性的iv特性測試實(shí)驗(yàn)
l輸出特性曲線
l轉(zhuǎn)移特性曲線
l跨導(dǎo)gm
l擊穿電壓bvds
l
四探針法測量半導(dǎo)體電阻率測試實(shí)驗(yàn)
l四探針法電阻率ρ
l材料阻值r
mos電容的cv特性測試實(shí)驗(yàn)（低頻 + 高頻）
lcv特性曲線
半導(dǎo)體霍爾效應(yīng)測試實(shí)驗(yàn)
l霍爾電壓vh
l霍爾電阻率ρ
l霍爾系數(shù)rh
l載流子濃度n
l霍爾遷移率u
激光二極管ld的liv特性測試
lliv特性曲線
l閾值電流ith
l閾值電流對(duì)應(yīng)電壓值vth
l拐點(diǎn)kink
l線性電阻rs
太陽能電池的特性表征
l開路電壓voc
l短路電流isc
l功率z大值pmax
l填充因子ff
l轉(zhuǎn)換效率η
l串聯(lián)電阻rs
l旁路電阻rsh
本科生集成電路實(shí)驗(yàn)平臺(tái)核心
測試平臺(tái)的核心– 源測量單元（源表， smu）
普賽斯國產(chǎn)源表四表合一四象限模式
四線/開爾文測試功能
小信號(hào)測試
滿足先進(jìn)器件和材料測試需求
交流測試使用lcr表
探針臺(tái)：4寸或6寸手動(dòng)探針臺(tái)
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